摘要：本发明公开了一种超快椭偏仪装置及测量方法，其包括用于产生皮秒量级啁啾脉冲的啁啾脉冲发生单元、泵浦光路单元、探测光路单元和反射光路单元，啁啾脉冲经非偏振分光镜后分为泵浦光和探测光，泵浦光经泵浦光路单元对样品进行泵浦冲击；探测光经探测光路单元斜入射至样品表面；探测光经样品表面反射后的反射光分为P光和S光，使P光和S光进行干涉，产生频域干涉图，根据频域干涉图计算获得包括幅值比和相位差的偏振光偏振状态的改变，然后通过偏振光幅值比和相位差的理论表达式与测量结果进行拟合，获取冲击动力学和光学参数。本发明通过单发脉冲同时测量材料的冲击动力学特性和光学特性，可准确描述冲击波作用下的材料响应特性。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人刘世元;江浩;钟志成;张传维;陈修国;陈伟;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201510361849.6
- 申请时间2015年06月26日
- 申请公布号CN105158165A
- 申请公布时间2015年12月16日
- 分类号G01N21/21(2006.01)I;
