技术参数

扫描探针显微镜－扫描器
扫描探针显微技术 SPM 是对传统光学显微Ψ镜和扫描电子显微镜的一种补充。 SPM 技术能够让您记录纳米量级的信息并把它们三维成像，观察到单个原子的形状。独特的 SPM 技术可以让你测量样品的高度－ Z 轴方向。光学显微镜的放大倍率通常为 2000~4000 倍，而 SPM 技术的放大倍率超过 100,000 倍，而且是三维的。
DME 公司的扫描器设计的理念就是简单易用，只※需要最少的时间来调整和进行探针移动。您的研究领域决定了您对扫描器型号的选择。我们的大多数扫描器 Scanner 都可以使用同一个扫描头，只需很小的调整就①可以进行 STM 、 AFM 或 SNOM 的模式扫描。

扫描隧道显微镜 STM 模式
扫描探针显微技术 SPM 的第一项应用就是扫描隧道显微镜 STM 。它是 1981 年开发成功，可以研究固体表面的∩的单原子层 (layer) ，现在它仍然是 SPM 仪器中灵敏度最高的技术。
STM 是如何工作的呢？在压电晶★体的前端嵌有钨丝探头，该探头非常靠近样品 ( 相隔小于一个纳米 ) ，这样在样品和探头之间的电子波函数相互重叠︾。当在探头和样品之间施加一定的偏置电压时，就会有〖隧道电流产生。然后隧道电流放大后经计算机控制反馈给探头的位置控制器使隧道电流保持一定，这样在 Z 方向的位移数据就可以提供样々品表面三维的电子密度分布图。而电子密度分布图就可以给出表面原子的排布方式。

原子力◤显微镜 AFM 模式
原子力显微镜扩展了 SPM 技术的♀功能，使得测量非导电物体的表面性能成为可能，在半导体、磁性材料和生物材料行业也可以使用这项【新技术。
AFM 的精细探针在样品表面来回扫描的过程中，顺着样品表面的形状而上下移动。独特的反馈系统始终保持探针的力和高度恒定，一束←激光从悬臂梁上反射到感知器，这样就能实时给※出高度的偏移值。样品表面就能记录下来，最终构建出三维的表面图。

扫描近场显微镜 SNOM 模式
SNOM 模▆式结合了 SPM 技术和更多的传统光学显微镜技术。
SNOM 是高分辨率的光学显微镜，它使用一个很小的“光斑”在样品表面↓扫描，每一时刻只有很小一部分样品表面被照亮。当探头（光纤）前端①的光阑非常靠近样品，样品就会引起光学近场的扰动。这将会使得光的散射从光阑的对面返回到探头，从而给出样品的表面信息ω　并最终形成三维分布图。

扫描探针显微镜－测试台
您可以根据不同的扫描器在我们提供的三种测试★台中选用最合适的一款。另外还可以根据您的特殊要求在相应的测试台◎上进行开发，为您提供一台定制的扫描器、控制器和测试台SPM 系统。

扫描探针显微镜－控制台
DME-SPM 控∮制台支持我们所有的 SPM 扫描器 (AFM 、 SNOM 或 STM) ，简单易用，功能强大，人性化设计。 控制台用于控制扫描器的活动，收集扫描的数据卐。所有的功能都可以通过 PC 软件来完成。

操作软件
DME SPM 软〓件是业界公认最出色的软件之一，您能同时进行测量工作和分析功能，提高效率。
基于 Windows 的软件，用户界面优化，同时又是一个功能强大的在线和█离线分析软件。在 SPM 扫描样品表面时，软件获取、处理和呈现给用户相应的数据，而且设置非△常简单，既可以手动进行设置，也能自动↑进行，所以在工业界和科学领域都特别适合。
测量的图像，以及显微曲线都以 MIF 格式储存，可以高达 512 帧。在浏览←文件时，可以预览图像内容。