主要特点

Nano-I™ 主机
Nano-I™ 主机非常容易安装在桌面上，可以在一般的实验环境中获得高解析的图像。主机尽可能去适应各种不同的样品类型，同时也兼顾到尽可能让AFM探头的设置和使用简易。主机包含：
•AFM 探头
•样品台
•平移X-Y-Z 样品台
•高解析影影显微镜
主机的所有电源都是由一个六英尺长的电子控制器提供的。操作上需要一根高压电线和一个真空源。因为主机是安装在花岗卐岩的支架上，所以PNI建议当有需要移动主机时, 最好由两人同时进行。


AFM 扫描仪
Nano-I™ AFM 扫描仪使用光调节杆法来监视悬臂在样品表面扫描时的移动。在NPI独特的新设计中, 扫描仪提供一个直接的内部扫描校准器和一个空轴扫描仪，便于用镜头直接观察。AFM传感器的校正可以通过调节四个螺丝旋钮来完成，使其很容易地接近AFM探头∏的前方。其中两个螺丝旋钮移动激光在悬臂上，另两个则移动光电探测器到反射激光的光路上。


Z方向的机动化进针
Nano-I™ 包括3个独特的动态进针系统 ，用于移动AFM探针接近样品表面扫描。每个电动机能独立控制移动3/8英寸并包括位置检测器。控制Z方向进针的软件包包含在 SPMCockpit™ 软件中.

样品台
Nano-I™样品台适用于所有类型的芯片和圆盘。当一个芯片置于样品台上面后，真空设备将迅速地使芯片固定在样品台上。在样品台的表面上有2英寸、4英寸、6英寸和8英寸的真空环对应于相同大小的芯片，每个真空环可以独立活动。厚度为0.5英寸的样品也可以被放置在样品台上用于获得AFM图像。样品台可以旋转360° 以便获得整个芯片的AFM图像。同时也可选购光盘固定器用于作DVD分析。

X-Y-Z 样品台的平移
Nano-I™具有专利的X-Y-Z 样品台平移装置设计。X-Y方向的移动是通过花岗岩后面的步进电机来完成的，这个花岗岩支撑在一个看不见的位置上，是非常安全和容易清洁的。这个样品台可以在x方向上移动4英寸而在y方向上移动5英寸。通过软件控制很↑容易使芯片安在样品台上。安装在样品平移区的三个马达使样品在Z方向上产生移动。这三个马达不仅对于进针有用，对于样品台的水平测量与样品/探针角度的精确控制也非常有用。

光学录像显微镜
一个『光学彩色录像机对于AFM中样品表面扫描中的定位特征是非常重要的。Nano-I™原子力显微镜有一个电驱移动装置和聚焦录像显微镜，后者可以用软件或者系统的示踪球控制。另外还有一个手动装置用于控制物镜的X-Y 位置使得在录像显微镜图像中悬臂的映像居中.


Nano-I™控制器和主机
主机
用于扫描和分析图像的主机是标准的IBM PC型计算机。主机和控制单元之间的连接使用一个标准的以太网连接器。

控制器
Nano-I™ 原子力显微镜的控制器是以PC为架购的一个特制控制器，通过标准的以太网接口连接到主机上.


Nano-I™ 软件
Nano-I™系统里提供有两个主要的软件模式：一个是获取图像的模式，另一个是显示和分析图像的模式。另外，还有更为高级的显示和分析图像的模式可选.

图像获取软件
Nano-I™ 有两类抓图软件，一种是对临时的和初学的使用者，另一种是对高级的使用者。EZMode™ 软件对于新操作或想临时了解Nano-I™仪器的使用者来说是理想的。X'Pert™ 软件则是专门为原子力显微镜的高级使用者而设计的，可以强有力地控制Nano-I™。

EZMode™ 软件
EZMode™ 软件是一个引导你如何获得AFM图像过程的连续软件包。这个过程导向的软件为获取一幅AFM图像给出了按部就班的程序。在EZMode™ 接口的顶端是必须遵循的一系列步骤。
EZMode™ 软件提供的步骤如下，对于非常有经验的【操作者，通过下面的这些步骤就可以获得AFM的图像：
•确定悬臂在显微镜当中
•开始：校正扫描仪（可选择的）：选择 "linearize（线性化）"，然后选择"scanner auto-linearity"（扫描仪自动线性化）。
•选择模式：接触模式或振动模式
•校正激光：校正激光在悬臂上的位置
•频率扫描：自动寻找最适当◤的峰值（仅在振动模式）
•台子：移动样品直到想扫描的位置在悬臂下方
•进针：开动电机使样品接近探针
•扫描样品：设定扫描尺寸和扫描参数
•图像处理：显示和分析图像
•退针：当扫描结束时退针

X'Pert™ 软件
使用X'Pert™ 软件可以直接控制"interactive"（交互）模式可用的■特性。下面是X'Pert™ 软件窗口的视图。
X'Pert™ 软件中菜单项目如下：
1.设置：这个窗口包含操作显微镜所有的控制参数包括扫描范围，PID（比例积分微分）设置等等。
2.针尖：针尖按钮控制针尖接近样品的所有方面。进针的类型、进针速度和退针的过程都被控制。
3.扫描仪控制：在扫描样品时使用这个窗口。这个窗口可同时显示1到4个窗口，有扫描尺寸△、速度、PID（比例积分微分）设置和其它的扫描参数。
4.力/距离窗口：可用力定位曲线窗口完全控制力/位置曲线。

图像分析
使用Nano-I™ 原子力显微镜系统可以实现所有常用的图像分析技术的标准特性。其功能有：
•柱状图调节
•图像水平
•三维显示
•线路断面
•图像矫正

Nano-I™ 分析软件
启动AFM图像分析窗口顶端的图标可以完整使用到Nano-I的每一个性能。软件特性包括：
•图像水平：这个窗口可以将图像的样品倾斜抹平。抹平的方法包括3点平面，多项式平面拟合和一维线性水平。在水平过程中可以选择和排除使用者指定的区域。
•线路断面：可以选择许多类型的线路断面，包括水平的、垂直的、倾斜的、多边形的、圆形的和许多线形平均。最多可以选择四个线路断面作分析。水平和垂直的距离可以在线扫描上计算出来。
•柱状图分析: 柱状图分析对于最佳化AFM图像█非常有用。可以选择一个图像柱状化的区域来用于显◣示图像完全扁平的范围。
•滤波:一些滤波的功能可以适用于AFM的图像上。滤波选项包括模糊功能、预定滤波功能和常用的要点。可以选择在滤波过程中不包括的图像区域。
•傅立叶滤≡波: 可以将一个标准的快速傅立叶变换功能运用到图像中。
•3D图型：通过多角度和多点可以观察到3D图型。在图像上简单地拖动鼠标就可以改变视角。