许多年以来，科研工作者一直希望△深入研究具有原子级分辨的表面特性。1981年，IBM的宾尼（G.Binning）和罗雷尔利用针尖和表面间的隧道电流随间距变化的性质进行表面结构的检测，获得了实空间的原子级分辨图像。这一技术称为扫描隧道显微镜（STM）。为此，宾尼和罗雷尔于1986年被授予诺贝尔物理学奖。STM的出现，使显微科学达到一个新的水平，促发了扫描探针显微ξ 术（SPM）研究的蓬勃发展，并对物理、化学、生物、医学及材料领域产生了巨大的推动作用。
研究超高真空环境下导体和半导体表面的原子结卐构，有助于进一步深入了解表面层（也包括与样品周边环境的相互作用）的物理特◤性。自1991年，丹麦DME公司就已经开发了RasterscopeTM超高真空STM（UHV-STM），不仅№用于用户已有的真空系统，也可▃定制特殊的真空室。公司一直与世界上杰出的科学家共同发展RasterscopeTM UHV-STM系统，使得产←品具有相当高的灵活性、简单性、小巧性以及稳定性。UHV-STM适合各种不同的实验配置，附有一个简单的防♂震系统，即使是分子泵、建筑物或说话时。完全不影响测量。随着图像测量技术的提高，隧道参数（如偏压、电流、环增益、光谱函数◥等）也相应进行了快速优化。因此，某个功※能被启动时，图像中也将出◥现由隧道参数变化引起的变化。
RasterscopeTM UHV-STM产品远销欧洲、远■东地区和美国。广大用户使用这些UHV-STM在表面物理和薄膜结构（表面工程）方面做了大量的研究工作，并发表了许多高质量╲的科学论文。今天，UHV-STM已成为一项表面研究的♂标准分析技术。丰富的STM图像也为其它的真空分析技术提供了卓有成效的启发。
