摘要：本实用新型提供了一种内封测量光纤的超导带材，包括〇上保护层、下保护层、超导带层以及测量光纤，所述超导带层和测量光纤封装在上保护层和下保护层之间，所述测量光纤沿长度方向设置。所述测量光纤采用若◆干长光纤连续地封装在上保护层和下保护层之间，或，多根短光纤间断地封装在上保护层和下保护层之间。同时还提供了上述超导带材的制备装置，本实用新型可以对超导线圈内部所有位置的温度进行实时测量，无论局部失超的发生在何处，都可以及时发现；提高了超导线圈的紧密性和光滑性，这对那些对磁场均匀度要求很高的高性能磁体意义非〓凡，极大地提高设备性能。
- 专利类型实用新型
- 申请人上海超导科技股份有▆限公司;
- 发明人洪智勇;王亚伟;
- 地址201210 上海市虹口区芳春路400号1幢3层301-15室
- 申请号CN201420430961.1
- 申请时间2014年07月31日
- 申请公⊙布号CN204178814U
- 申请公╱布时间2015年02月25日
- 分类号H01B12/00(2006.01)I;G01K11/32(2006.01)I;H01B13/00(2006.01)I;
