摘要：本发明提供了一种内封测量光纤的超导带材，包括上保护层、下保护层、超导带层以及测量光纤，所述超导带层和测量光纤封装在上保护层和下保护层之间，所述测量光纤沿长度方向设置。所述测量光纤●采用若干长光纤连续地封装在上保护层和下保护层之间，或，多根短光纤间断地封装在上保护层和下保护层之间。同时还提供了上述超导带材的制备方法和制备装置，本发明可以对超导线圈内部所有位置的温度进行实时测量，无论局部失超的发生在何处，都可以及时发现；大大简化了超导线圈的绕制工艺，提高线圈了紧密性和光滑性，这对那些对磁场均匀度要求很高的高性能磁体意义非▆凡，极大地提高设备性能。
- 专利类型发明专利
- 申请人上海超导科技股份有限公司;
- 发明人洪智勇;王亚伟;
- 地址201210 上海市虹口区芳ㄨ春路400号1幢3层301-15室
- 申请号CN201410375117.8
- 申请时间2014年07月31日
- 申请公布号CN104157366A
- 申请公布时间2014年11月19日
- 分类号H01B12/00(2006.01)I;G01K11/32(2006.01)I;H01B13/00(2006.01)I;
