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表面污染测量仪
摘要:
专利类型
外观专利
申请人
中国辐射防护研究院;
发明人
刘长明;陈 昶;杜向阳;刘 芸;韩淑萍;刘正山;孟 丹;任 熠;宋称心;
地址
030006山西省太原市学〓府街102号
申请号
CN200630128425.7
申请时间
2006年08月08日
申请公布号
CN3654325D
申请公布时间
2007年06月06日
分类号
10-04;
该申请㊣ 人其他专利(共359)
基因重组技术制备PGRP
(31-98)
片段的方法
辐射探测器无源效率刻度的方法
血液制品中病毒的灭活方法
前置放大器的防潮绝缘处理工艺
注射用胎盘多肽制备方法
仿真人体模型制作方法
防α气溶胶气衣粘合工艺
高纯锗探测器无源效率刻度的方法
一种去除金属表面放射性污染的电解去污方法
高纯锗探测器无源效率刻度的方法
该分类其它专利(共685)
IC卡干电池超声波热量表
50米跑测试仪
pH计(PHS-3C)
半球积分球测量装置
崩解仪(三杯)
笔形万用表(MS8213)
测距仪
波长色散X射线荧光光谱仪(WDX400)
背力测试仪
测距仪
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