摘要：本实用新型公开了一种基质辅助激光解析离子源进样装置，包括内部具有腔室的中空部件，安装在中空部件内〖部的Y向平台和安装在Y向平台上的X向平台，放置在安装在X向平台上的靶槽平台上的靶槽，安装在中空部件内部且与X向平台正向相对的顶靶机构和举靶机构，以及安装在中空部件顶部的具有凹槽的盖板；本实用新型通过举靶机构和顶靶机构的运动使得盖板上的凹槽与靶槽平台形成封闭腔室并由真空系统抽真空，以形成过渡真空腔室，可以有效地使得样品进行一个╳动态的样品□对于真空度的适应过程，操作更加灵活和便捷。
- 专利类型实用新型
- 申请人江苏天瑞仪器股份有限公司;
- 发明人应刚;徐鹏登;周立;
- 地址215347 江苏省苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园
- 申请号CN201620556870.1
- 申请时间2016年06月12日
- 申请公布★号CN205691540U
- 申请公布时间2016年11月16日
- 分类号G01N27/62(2006.01)I;
