摘要:一种用于X荧光光谱仪的光斑定位调整方〇法及装置,其中定位调整方法包括:提供狭缝板,设置于X荧光光谱仪样品台上,且覆盖照射区;狭缝板上设有位于照射区内,且互相垂直呈“L”字形的两条狭缝,以两条狭缝中心线分别为坐标轴建立直角坐标系,两轴交点为∮原点;设定光斑初始化位置的坐标;沿平行于任意一坐标轴的方向移动所述样品台,测出光斑起始位置◎在该轴的坐标,并回复至起始位置;沿平行于另◥一坐标轴的方向移动所述样品台,测出光斑起始位置在该〓轴的坐标,并回复至起始位置;根据上述起始位置々以及初始化位置的坐标,移动样品台将光斑定位于初始化位置。本发明具有装置结构简单,易于改装至光谱仪,适用范围广泛,定位调整迅速精确的优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人江苏天瑞仪器№股份有限公司;
- 发明人刘召贵;应刚;李胜辉;李玉花;
- 地址215347江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦
- 申请号CN200910129548.5
- 申请时间2009年03月26日
- 申请公布号CN101551347A
- 申请公布时间2009年10月07日
- 分类号G01N23/223(2006.01)I;