摘要：一种用于X荧光光谱仪的光斑定位调整方法及装置，其中定位调整方法包括：提供狭缝板，设置于X荧光光谱仪样品台上，且覆盖照射区；狭缝板上设有位于照射区内，且互相垂直呈“L”字形的两条狭缝，以两条狭缝中心线分别为坐标轴建立直角坐标系，两轴交点为原点；设定光斑初始化位置的坐标；沿平行于任意一坐标轴的方向移动所述样品台，测出光斑起始位置在该轴的坐标，并回复至起始位置；沿平行于另一坐标轴的方向移动所述样品台，测出光斑起始位置在该轴的坐标，并回复至起始位置；根据上述起始位置以及初始化位置的坐标，移动样品台将光斑定位于初始化位置。本发明具有装置结构简单，易于Ψ 改装至光谱仪，适用范围广泛，定位调整迅速精确的优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人江苏天瑞仪器股份有限公司;
- 发明人刘召贵;应刚;李胜辉;李玉花;
- 地址215347 江苏省昆山市苇城︻南路1666号清∑华科技园天瑞大厦
- 申请号CN200910129548.5
- 申请时间2009年03月26日
- 申请公布号CN101551347B
- 申请公布时间2012年02月15日
- 分类号G01N23/223(2006.01)I;
