摘要：本发明公开了一种导轨平行度测量方法，具体为：将左、右侧导轨的其中一侧作为基准导轨，另一侧作为被测导轨；同时采样左侧、右侧导轨的高度信息；采用最小二乘法对基准导轨的采样高度⌒进行拟合得到一条基线；在基准导轨上依据基线生成两组包容线，从两组包容线的间距选择最小者，其对应的上、下包容线作为评定平行度的基准包容线；生成平行于基准包容线且↓包容被测导轨采样高度的上、下包容线，上、下包容线间的纵向间距即为平行度。本发明ω 还提供实现上述方法的装置。本发明实现了机床导轨平行度的快速测量，解决现有测量方法计算※冗杂、操作难度大的问题。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;武汉华中数控股份有限→公司;
- 发明人李曦;陈晗;孔刚;朱念念;龙子凡;郭永才;毛延玺;陈吉红;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201510961972.1
- 申请时间2015年12月18日
- 申请公布号CN105403189A
- 申请公布时间2016年03月16日
- 分类号G01B21/22(2006.01)I;
