摘要：光电探测器光谱响应测试系统及其测量方法，属于光学辐射定标测量仪器及方法，解决现有测试系统成本昂贵且难以保证测量精度的问题，以实现光谱响ζ 应的高精度测量。本发明的测试系统，包括正弦调制光源、聚光透镜、单色仪、滤光片轮、暗箱、电机驱动电路，微控制器控制电路、前置放大电路、正弦锁相放大电路、数据采集卡和计算机，所述正弦调制光源为正弦调制的白炽灯、卤钨灯或LED光源。本发明使用正弦调制光源，采用可编程器件实现正弦锁相放大的方式，测量并绘制在300～900nm范围←内的光电探测器光谱响应，实现高精度测量的同时，降低了设备成本和设】计难度。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;深圳华中科技大学研究院;
- 发明人赵茗;汪少锋;杨振宇;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201510759890.9
- 申请时间2015年11月10日
- 申请〗公布号CN105258798A
- 申请公』布时间2016年01月20日
- 分类号G01J3/28(2006.01)I;G01J3/10(2006.01)I;
