摘要：本发明公开了一种提高磁致伸缩导波检测灵敏度的装置，以及利用该装置¤提高磁致伸缩导波检测灵敏度的方法，中心处理器控制信号发生器产生▓激励信号，通过功率放大器输入激励传感器，在待检测区域激励产生超声导波并沿轴向传播；经信号增强元件的反射，超声导波叠加增强后输入接收传感器，经信号预处理器输入到A/D转换器，转换成数字信号输入中心处理器；中心处理器通过对数字信号的分析，得出缺陷在待检测区域上的位置。本发明↑通过在传统的磁致伸缩导波的检测装置中引入了信号增强元件，实现缺陷多次回波信号幅值∩增强，达到提高导波检测灵敏度的目的，同时不需对现有＠ 装置进行复杂的改造，即可实现无盲区的缺陷检测。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人武新军;从明;
- 地址430074 湖北省武汉市◆洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201510448223.9
- 申请时间2015年07月27日
- 申请公布号CN104990984A
- 申请公布时间2015年10月21日
- 分类号G01N29/22(2006.01)I;G01N29/32(2006.01)I;G01N29/07(2006.01)I;
