摘要：一种介质材料介电性能测试方法，包括：将上部同轴传输线和下部同轴传输线↓连接至矢量网络分析仪；使得上圆柱形谐振腔体和下圆柱形谐振腔体相对对齐接触；在圆柱形谐振腔体中激发TE0np谐振模式，使得上圆柱形谐振腔体和下圆柱形谐振腔体中谐振峰的插入☆损耗最低，测量空腔谐振频率和品质因数；在上部条状导体凸缘与下部条状导体凸缘之间布置待测介质基片；在圆柱形谐振腔体中激发TE0np谐振模式，调节耦合环使得上圆柱形谐振腔体和下圆柱形谐振腔体中谐振峰的插入损耗最低，测量待测介质基片的相对介电常数的预估值；根据空腔谐振频率和品质▅因数、相对介电常数的预估值、介质基片的尺寸，计算待测介质基片∞的介质材料的介电性能参数值。
- 专利类型发明专利
- 申请人无锡江南计算技术研究所;
- 发明人贾燕;张永华;邬宁彪;陈文录;李小明;石小传;刘立国;李建荣;
- 地址214083 江苏省无锡市滨湖区军东新村030号
- 申请号CN201510048059.2
- 申请时间2015年01月29日
- 申请公布号CN104569618A
- 申请Ψ公布时间2015年04月29日
- 分类号G01R27/26(2006.01)I;
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