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                介电系数微波测量装置及其构成的介电系数微波测量系统

                  摘要:本发明公开了一种介电系数微波测量装置及其构成的介电系数微波测量系统,所述测量装置包括同轴结构的外导体、内导体及位于内外导体之间的绝缘介质,同轴结构在轴向分为直圆柱测量段和两侧直径渐变收缩的阻抗匹配过渡段,阻抗匹配过渡段的端口设计有使本装置接入测量ω 系统的同轴接口,构成同轴测量段的外导体中间直圆柱段设计有供盛装待测介电系数物质的试管◎插入的安装孔,内导体于试管插入处断开。所︾述测量系统,包括微波信号源、环行器、双定向耦合器、介电系数微波测量装置、定向耦合器、匹配负载、检波器、放大器、A/D模数■转换器和计算机。采用本发明进行介电系数测试,具有实时、准确的特点,特别适用于液ㄨ体、粉状物质的介电系数测量。
                • 专利类型发明专利
                • 申请人四川大学;
                • 发明人黄卡玛;陈倩;杨阳;刘长军;闫丽萍;赵翔;郭庆功;陈星;杨晓庆;
                • 地址610065 四川省成都市一环路】南一段24号
                • 申请号CN201310268707.6
                • 申请时间2013年06月28日
                • 申请公布号CN103353553B
                • 申请公布时间2016年05月25日
                • 分类号G01R27/26(2006.01)I;G01N22/00(2006.01)I;