摘要：本发明公开了一种微管和光镊测控系统，属于激光技术领域。所述微管和光镊测控系统包括样品池，所述微颗粒物在所述样品池内动作；样品动作装置，所述样品动作装置与所述样品池连接；第一光阱装置，所述第一光阱装置用于捕获控制所述样品池内的微颗粒物；所述第一光阱装置包括第一激光机构、第一监测机构及第一显微机构；第二光阱装置，所述第二光阱装置与所述第一光阱装置相对称；成像装置，所述成像装置拍摄所述样品池内的图像；中央处理器，所述中央处理器与所述监测装置连接，用于实时监测激光的位置及强度。本发明微管和光镊测控系统采用对称的双光阱系统，空间分辨率、时间分辨率及测力精度高。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人肖波涛;符青山;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201410451626.4
- 申请时间2014年09月05日
- 申请公布号CN104216103B
- 申请公布时间2016年12月07日
- 分类号G02B21/32(2006.01)I;G02B21/36(2006.01)I;G01N21/85(2006.01)I;
