摘要：发光二极管荧光粉发射光谱测量方法，属于光辐射测量技术领域。现有技术存在测量不准确的缺陷。本发明包括以下步骤：(一)用至少一个LED作为激发源，使其发出的激发光照◆射到被测荧光粉上而激发荧光粉发光，在被测荧光粉所发出光线的光路上设置一光学接收件以接收荧光粉发出的光。(二)使用光谱辐射测试仪对光学接收件接收到的光进行光谱测量。(三)将所测得的光谱数据通过解调分离算法计算得到待测荧光粉的发射光谱。通过准确模拟照明LED使用条件和采用解调分离算法，消除了带宽影∞响，减小了误差，提高了测☉量精度，通用性好。
- 专利类型发明专利
- 申请人杭州远方光电信息股份有限公司;
- 发明人潘建根;沈海平;
- 地址310053 浙江省杭州市◇滨江高新区滨康路669号
- 申请号CN200610154739.3
- 申请时间2006年11月21日
- 申请公↑布号CN101191770B
- 申请公布时间2011年06月15日
- 分类号G01N21/64(2006.01)I;
