摘要：本发明公开了一种光谱自校正光度计及其测量方法，包括入光口、光学分光镜、光谱仪和具有滤色片的硅光电池，光学分光镜将被测光按固定比例至少分成两束，一部分光束被光谱仪接收，另一部分光束被硅光电池接收，二者同时测得同一束被测光。本发明的光谱自校正光度计能大幅减小由光谱失匹配带来的误差，对被测光的光谱依赖性小，且克服了由被测光源的空间光谱功率分布不一致和发光随时间变化等带来的问题，测量的系统误差和╲随机误差都相对较小，测量重复性高；利用绝〒对光谱辐射计作为标准源定标本发明的光谱自校正光度计，光辐射度的绝对量值传递链很短，光谱自校正光度计具有较高精度和可＠ 靠性的绝对量值，可应用于各种光辐射测量系统，测量多种重要的光辐射参数。
- 专利类型发明专利
- 申请人杭州远方光电信息股份有限公司;
- 发明人潘建根;李倩;
- 地址310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号
- 申请号CN200910095709.3
- 申请时间2009年01月16日
- 申请Ψ 公布号CN101782428B
- 申▃请公布时间2012年02月29日
- 分类号G01J1/10(2006.01)I;
