一分快3

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                教育装备采购网首页 > 知识产权 > 专利 > CN102636472B
                
            
                
                
                
                    
                
                        

                        
                        
                    
                
                
                
            
                
        
                
        
                
            
                
                
                LED外延片非接触式测试装置
                
                
                
                
                
                    
                　　摘要：本发明涉及半导体测试领域，涉及一种半导体材料的激光激发荧光与白光反射的同步测量装置，更具体的说涉及※LED外延片非接触式测试装置。本发明装置包括：在支撑板（2）上固定的光谱仪（3）、收光装置（4）、激光器安装架（5）、激光器（6）、分光镜装置（7）、滤光片装置（8）、中央开孔反射镜（9）、聚光装置（10）、白光源（11）、样品（12）安装架、光路安装座（13）。本发明的优点是由于采用了上述技术方案，本发明与现有技术相比，测试效率明显提高，具有良好的经济效益。
                
                    
                    
                  
                        
                • 专利类型发明专利
                  • 
                        
                • 申请人北京中拓机械有限责任公司;
                  • 
                        
                • 发明人郭金源;徐杰;
                  • 
                        
                • 地址102208 北京市昌平区回☉龙观北京中拓机械有限责任公司
                  • 
                        
                • 申请号CN201210127936.1
                  • 
                        
                • 申请时间2012年04月27日
                  • 
                        
                • 申请公布号CN102636472B
                  • 
                        
                • 申请公↓布时间2014年09月17日
                  • 
                        
                • 分类号G01N21/64(2006.01)I;G01N21/25(2006.01)I;
                  •