主要类型
用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制和检修时必须测量其厚度，以便了解材ξ 料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度;有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有▃声、磁性、涡流、同位素等四种。
声波测厚仪声◎波在各种介质中的声速是不同的，但在同介质中声速是常数。声波在介质中传⊙播遇到第二种介质时会被反射，测量声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将这间隔时间换∮算成厚度。在电力工业中应用广的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热∩面管子、管︽道等的厚度，也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的，体积与小型半导体收音机相近，厚度值的显示多是数字式的。对于钢材，大测定厚度达2000 mm左右，精度在±0.01~±0.1 mm之间。
磁性测厚仪在测定各种「导磁材料的磁阻时，测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而发生变化。利∩用这种变化即可测知覆盖层厚度值。常用于测定铁磁金属表面上的喷铝层、塑料层、电镀层、磷化层、油漆层等的厚度。
涡流测厚仪←当载有频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流产生的磁场又反◣作用于探头线圈，使其阻抗发生▅变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离(即覆盖层的厚度)有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上╲其他缘覆盖层的厚度。
同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测①定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线〒有γ射线、β射线等。
使用注意事项
测厚仪的测试方法主要有:磁→性测厚法，放射→测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，声波测厚法。
测量注意事项:
⒈在行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与∏试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂卐直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这●个厚度测量就不受基体金属厚度的影响※。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处︾和靠近试件边缘处测量，因为般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在行测试的时候要注♀意仪器测头和被测试件的要∏直接接触，因此声波测厚仪在行对侧头清除附着物质。
