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                半导体■产品可靠性相关的常见术语

                教育装备采购网 2019-03-29 12:46 围观634次

                  ?浴盆曲线

                  浴盆曲线通常用作一个可视化模型来说明产品故障率的三个关键时期,并未经校准以描绘特定产品系列的预期行为。 很少能有足够的短期和长期故障信息来使用经过校∑ 准的浴盆曲线对大量产品准确建〖模,因此一般使用可靠性建模进行估算。

                  半导体产品使用寿命有三个主要阶段:

                  早期故障率(或婴儿死亡率)– 此阶段的特点是初始故障率较高,后期将迅速降低。 这一★阶段故障率通常以“每百万缺陷器件数”(dppm) 衡量。

                  正常使用:此阶段的故障率在整个器件使用过程中都保持¤稳定。 此故障率【以“FIT”为单位,或作为以小时为单位的“平均故障间№隔时间”(MTBF)。

                  劣化阶段:此阶〗段表示固有劣化机制开始占主导地位并且故障率开始呈几何级增长的时间点。 产品寿命通常定义为从初始生产一直到出现劣化的时间周期。

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                  故障率术语

                  半导体产@品可靠性相关的常见术语

                  对于给定样本大小n,在t小◥时之后将出现m个故障

                  运行时间– 如果“n”运行“t”小时后发现“m”个故障,则

                  半导体产品可靠♀性相关的常见术语

                  λavg – 平均故障率

                半导体〇产品可靠性相关的常见术语

                  FIT – 时基故障,即每十亿运行小时出现故障的部件数。 您可以使用 TI 的可靠性估算器获取任何 TI 器件的 FIT 率。

                半导体产品可√靠性相关的常见术语

                  DPPM – 每百万缺陷器件数,也被称为每百万发货量次品数。

                半导体产品ω 可靠性相关的常见术语

                  MTTF(平均故障▆时间)- (t1 t2 t3 ….tm)/m

                半导体产品可靠性相关的常见术语

                  这是发生故障的平均时间。 MTTF 用于不可修复系统的情况。

                  T50(中位故障时间)= 50% 部件发生故障的时间。

                半导体产品可靠性相关的常见术语

                  一半故①障在 T50 之前发生;另一半在 T50 之后发生。 在故障分布的统计处∑ 理中常常用到。 如果故障次数是正态分布,则 T50 与 MTTF 相同。

                  MTBF(平均故障间隔时间)= [t1 (t2- t1) (t3 – t2) ….(tm – tm-1) ]/m = tm/m

                  MTBF 是连续故障之间的平均时间。 MTBF 用于可修复系统█的情况。 它其实是故障间的平均正常运行时间,因为它不含修复时间。

                半导体产品可靠性相关的常见术语?


                  概率分布

                  概率分布是⊙部件随时间发生故障的比例的图△形或数学表示。 对于有限的离散故障样本,该分布通常显示为直方图。 此分布的曲线形状在数学上用概率分布函数 (PDF) 表示。

                  概率密度函数 f(t):

                  该函数将特定时间 t 的故障概率表示〗为 f(t).Δt

                  区域 f(t).Δt 也可以◎预测特定时间 t 的预期故障数。

                  累积分布函数 F(t):

                  它表示』一直到给定时间“t”的累积故障数。

                半导体产品可靠性相关的常见术语

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                  故障率或风险率 l(t)

                  故障率是在时@ 间 t 的条件故障概率〗,即部件能存活到给定时【间 t 时的故障概率。

                  它也可以表●示为在 t 和 t ΔT 间的时间间隔内每单位时间出现故障的部件数,是那些存活到时间 t 的部件的◣一部分。

                  如图所示,故障率随时间的变化在产品寿命早期很高,随后迅速下降。 在有效寿命阶段,故障率是恒定的。 随着材料退化并达到劣化,故障率将随时间不断增加。

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                  可靠性函数 R(t)

                  存活到时间 t 的概率。换种说法,就是部件存≡活到时间 t 的比例。

                  故障和存活总比例相加必须为 1。

                  R(T) F(T) = 1

                  根据如前√所述的 f(t)、F(t)、R(t) 和 l(t) 定义

                半导体产品可靠性相关的常见术语

                  当故障率 l(t) 为常量时,可靠性函数呈指数分布

                半导体产品可靠性相关的常见术语

                  对于恒定故障率,即浴盆▲曲线的正常寿命部分,指数分布对于故障概率和使用寿命建模很有用。

                  

                  威布尔分布

                  威布尔分布是◥由 Waloddi Weibull 创造←的连续概率分布。 在现实中,它用于随时间变化的故障率,使用时根据 3 个参数▂的威布尔分布对故障概率建模:

                半导体产品可靠性相关的常见术语

                  η、β、γ 是由应力测试故障部件确定的参数。

                  在很多情况下,只有两个参数是可靠性建模必需的,因此威布尔分布简化为:

                半导体产品可靠性相关的常见术语

                  β 被称为“威布尔斜率”,η 被称为分布々的“特征寿命”。

                  浴盆曲线的三个部分 – 早期故障、有效寿命和劣化 – 常具有不同的故障分布形状,如图所示。

                  威布尔分布是》功能强大的数学函数,可以表示浴盆曲线的所有↓三个阶段,通常只需使用两个可调参数 – β 和 η。

                  它常常用于可靠性ξ 建模。

                半导体产品可靠性相关的常见术语

                点击进入北京宏展仪器有限公司展台№查看更多 来源:教育装备采购网 作者:广东宏展科技有限公司 责任编辑:方剑波 我要投稿
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