2019年9月，剑桥大学Rachel Oliver教授及其团队聚集了来自英国科学和工业界的50多名研究人员，为其全新的时间分辨阴极荧光测量系统Allalin Chronos的顺利安装和交付使用举行了盛大的开幕式！
剑桥大学物理科学学院院长Lindsay Greer教授主持开幕仪式，并对这台设备获得的时间¤分辨阴极荧光结果和应用进行了许多深入而热烈的讨论，内容涵盖了从化合物半导体材料和器○件到钙钛矿和地质样品的各种材料。Rachel Oliver教授随后介绍了此设备的实用性，强调了此设备∏的顺利安装必将极大促进英国科学界在相关领域的研究，期待可以得到更多的创新性科研成果！
开幕式ㄨ现场照片
这款先进的时间分辨阴极荧光测量系统是由瑞士attolight自主研发生产的，Attolight公司CEO Samuel Sonderegger博士应邀参加开幕式，并与到场科学家进行了深入的技术交流和沟通。
作为世界上唯一一♂款同时具备时间分辨和空间分辨的阴极荧光测量系统，attolight生产的Allalin Chronos具有如下的独特技术优势和应用特点：
? Allalin Chronos系统，可实现变温、时间分辨、纳米尺度分辨率的阴极荧光分析。在连续模式下，系统采用高电流密度的→肖特基场发射电子枪。在时间分辨模式下，相同的电子枪则为超快激光器所驱动，产生超短电子脉冲。系统独有的高效率定量CL收集系统，有效保障时间分辨阴极荧光光谱测试。
? 激发激光器与探测器之【间精确同步，从而使皮秒级的时间分辨阴极荧光分析成为可能。脉冲模式与连续模式之】间的切换是自动化的，且仅需要几分钟，这使得系统能够成为完美的多用户设备，满足不同用户的研究需求和使用要求。
? Allalin Chronos是专为那些需要获取光谱动力学信息的研究者们而量身打造的，具有纳米级空间分辨↑率及皮秒级的时间▽分辨率。系统具有一整套超快探测器，探测波长覆盖紫外至近红外波段（200 nm~1700 nm），尽最大可能优化您的应用。
? 该系统还可搭配超稳液氦恒温器使用，工作〖温度覆盖10 K至室温。Allalin Chronos的多功能设计也使它能够执行其他先进的表征测试，例如泵浦/探测♀光谱及动态SEM。
附1：基于时间分辨阴极荧光光谱的应用及部分实例
- 局域辐射和非辐射载流子寿命的测定
- 半导体异质结中载流子激发动力学的分析
- 先进∑ 的泵浦/探测光谱
利用时间分辨CL分析弯曲状态下氧化锌微米带中的激子扩散行⊙为：沿微米带径向三个ㄨ不同激发区域的时间分辨荧光光谱。根据测试结∮果，可以建立并验证应力诱导的激子扩散模型。(ACS Nano, 8(4), 3412-3420, 2014)
InGaN/GaN量子阱中局域载流子复合。(Applied Physics Letters 109, 232103 (2016))
在氮化镓中围绕单一位错缺陷的CL强度与有效寿命。(Applied Physics Letters 109, 042101 (2016))
单根InGaN/GaN核/壳微米柱的时间分辨CL衰减及CL成像结果。(Applied Physics Letters 112, 052106 (2018))
附2：Rachel Oliver教授利用Attolight阴极荧光光谱仪开╳展的部分研究工作及链接：
[1] T. J. Puchtler, A. Woolf, T. Zhu, D. Gachet, E. L. Hu, R. A. Oliver. Effect of Threading Dislocations on the Quality Factor of InGaN/GaN Microdisk Cavities. ACS Photonics, 2015, 2, 137-143.
(https://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/ph500426g)
[2] T. Zhu, D. Gachet, F. Tang, W. Y. Fu, F. Oehler, M. J. Kappers, P. Dawson, C. J. Humphreys, R. A. Oliver. Local carrier recombination and associated dynamics in m-plane InGaN/GaN quantum wells probed by picosecond cathodoluminescence. Appl. Phys. Lett., 2016, 109, 232103.
(https://doi.org/10.1063/1.4971366)
[3] C. J. Humphreys, F. C-P. Massabuau, S. L. Rhode, M. K. Horton, T. J. O’Hanlon, A. Kovacs, M. S. Zielinski, M. J. Kappers, R. E. Dunin-Borkowski, R. A. Oliver. Atomic Resolution Imaging of Dislocations in AlGaN and the Efficiency of UV LEDs. Microsc. Microanal., 2018 ,4, 4-5.
(https://doi.org/10.1017/S143192761800051X)
[4] F. C-P. Massabuau, S. L. Rhode, M. K. Horton, T. J. O’ Hanlon, A. Kovács, M. S. Zielinski, M. J. Kappers, R. E. Dunin-Borkowski, C. J. Humphreys, R. A. Oliver. Dislocations in AlGaN: Core Structure, Atom Segregation, and Optical Properties. Nano Lett., 2017, 17, 4846-4852.
(https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.7b01697)
[5] F. C-P. Massabuau, P. Chen, S. L. Rhode, M. K. Horton, T. J. O’Hanlon, A. Kov′acs, M. S. Zielinski, M. J. Kappers, R. E. Dunin-Borkowski, C. J. Humphreys, R.A. Oliver. Alloy fluctuations at dislocations in III-Nitrides: identification and impact on optical properties. Proceedings Volume 10532, Gallium Nitride Materials and Devices XIII; 105320R (2018)
(https://doi.org/10.1117/12.2288211)
附3：部分国内专家学者利用Attolight阴极荧光光谱仪开展的研究工作及链接：
[1] X. Fu, G. Jacopin, M. Shahmohammadi, R. Liu, M. Benameur, J-D. Ganière, J. Feng, W. Guo, Z. Liao, B. Deveaud, D. Yu. Exciton Drift in Semiconductors under Uniform Strain Gradients: Application to Bent ZnO Microwires. ACS Nano, 2014, 8, 3412-3420.
(https://doi.org/10.1021/nn4062353)
[2] M. Shahmohammadi, G. Jacopin, X. Fu, J-D, Ganière, D. Yu, B. Deveaud. Exciton hopping probed by picosecond time-resolved cathodoluminescence. Appl. Phys. Lett., 2015, 107, 141101.
(https://doi.org/10.1063/1.4932098)
[3] Y. Song, L. Zhang, Y. Zeng, L. Qin, Y. Zhou, Y. Ning, L. Wang. Microscopic View of Defect Evolution in Thermal Treated AlGaInAs Quantum Well Revealed by Spatially Resolved Cathodoluminescence. Materials 2018, 11(6), 1049.
(https://doi.org/10.3390/ma11061049)
[4] X. Xie, B. Li, Z. Zhang, S. Wang, D. Shen. Controlled compensation via nonequilibrium electrons in ZnO. Sci. Rep., 2018, 8, 17020.
(DOI:10.1038/s41598-018-35178-w)
附4：相关产品
时间※分辨精细阴极荧光分析系统：/v2v8n5/product/20160315784.shtml
