材料阻抗测试设备MIA简介
[系统简介]
材料的基础物性研究是产品产业化的根基，当一种材料需要产业化的时候，我们必须尽可能大范围地，高精度地掌握它的大部分特性，以免因为错误的数据而影响了后期产业化的方向，造成不必要的损失。
MIA系列是东阳特克尼卡株式会社与ZURICH联合开发，面向各种介电材料的交流阻抗评测系统。该系统搭配了OSL补偿系统，实现了高达0.2%的测量误差精度。
[系统图片]
[测试项目，关键词]
介电材料交流阻抗电容测量配位化☆合物离子导电材料々调色剂有机半导体
交流阻抗测试系统阻抗测试系统阻抗分析仪阻抗测试仪介电常数测试仪
[系统特征]
?可对应1T?的样品
-适用于介◥电材料，配位化合█物，离子导电材料，调色剂，有机◥半导体等
?高精度
-基础测量精度0.2%
-带有OSL校正
?专用软件
-HIMS全自动控制测量软件
-Z-View等阻抗分析软件
?各种专业配件
-适用于各种不同材料形态尺寸样品的夹具选配件
-适用于各种气体氛围，环境和温◢度的选配件
[系统规格]
样品接》触方式 | 2端接触 |
频率范围 | 1mHz ～5MHz |
基本测量精度 | 0.20% |
阻抗＠测量范围 | 100Ω ～1TΩ |
电容测量范围 | 1pF ～1mF |
介电损耗（tanδ）测量范围 | 0.0001 ～1000 |
施加电压（AC + DC Vpp） | -10V ～+10V |
校正功能 | OSL |
控制软件 | 附带HIMS软件，PC控制 |
[选配件]
-?电压放大功能DC：±4kV、AC：800Vpp，带特殊保护装置。
?样品夹具/温度控制
型号 | TTPX | LN-Z2 | 恒温箱＋SH2-Z | HT-22-1000 | UHT-22-1200 |
名称 | 低温探针台 | 广域温度控制台 | 耐热样品台 | 桌面型烘箱 | 超高温烘≡箱 |
温度控制范围 | 4.2K ～425K | 80K ~ 473K | -60℃ ～+150℃ | 100℃ ～1,000℃ | 100℃ ～1,200℃ |
※根据型号冷媒不同 | |||||
样品接触方式 | 探针 | 上下夹扣 | 上下电极 | 上下夹扣 | 上下夹扣 |
氛围气体控制 | 真空，气体置换 | 真空，气体置换 | 规格不同不同对应 | 流气量控制 | 流气量控制 |
[测试图例]
