在集成电路的研发、生产制造、实效分析过程中，经常要量测内部的电参数，由于制成的越来越低，没有办法用简单的万用表、示波器的表笔来探【测信号。手动分析探针台能很好的帮№助工程人员实现微小位置的电学参数测试。Advanced在中国推出手动分析探针台近10年历史，销售实绩120多台，并且以每年30多台的销量稳居↘行业销量榜首。行业知名客户有：友达光电、华映光电、奇美光电、群创光电、飞兆半导体、德州仪器、华虹集成、华为、电子五所、航天808所、航天201所、中科院微电子※所、苏州中科院纳米研究所、复旦大学、上海交↙通大学、西安电子科【技大学、温州大学、福州大学、厦门大学等等……

型号： PW-400
规格：
chuck尺寸100mm
X,Y移动行程100mm
chuck Z轴方向升降10mm（选项）
搭配AEC实㊣　体显微镜
针座摆放个数2～4颗
适用领域：4寸Wafer，如晶圆厂、LED、学术单位等

型号： PW-600/PW-800

规格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y电动移动行程150mm（200mm）
chuck粗调升降8mm，微调升降25mm
可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6～8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
可搭配Probe card测试
适用领域：6寸/8寸Wafer、IC测试之◆产品

RF高频探针台

东、南、西、北测试臂
搭配美国GGB高卐频测试头
DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
Pitch 100～1500um
探针材料：BeCu/Tungsten