本设备专用于测量铝箔直流电阻，传统的铝箔直流电阻是测量一条长1m，宽10.0mm的铝箔电阻，单位为Ω/m电阻（宽度10.0mm）。
KDB-2A测试仪严格参照国际标准SEMI MF 374-0307对设备的要求研制，运用了先进的半导体薄层测量技术，无需特别制样，可测不规则的铝箔。
技术指标：铝箔直流电阻测量范围（3位有效数字）：0.001-199.99Ω/m。
测量电流分两档：100mA和1000mA。
分辨率：0.001Ω/m。
方形试样尺寸：长×宽≥16mm×16mm。
圆形试样尺寸：直径D≥16mm。
试样厚度：t≤28μm（约）。
探针间距：1.59mm。
扩展读数：测量值为两位数时，直流电阻测量最低值扩大至0.010Ω/m；试样厚度扩大至t≤280μm。
