1、概述
KDY-2型两探针电阻隔率测试仪（以下简称两探针仪）是按照我国国家标准及美国材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量模截面尺寸是可测量的，而且棒的长度大于横截面线度的有规则的长棒，例如横断◇面为圆形、正方形、长方形或梯形的单晶或多晶锭。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出，远离ω电压测量探针，因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应（如珀尔帖效应、塞贝ω 克效应、少子注入效应等），对测量的影响较※小，因此两探针法的测量精度一般优于四探针法。特别是对多晶材料的测量，由于多晶晶粒间界处，杂质局部偏析可能】导致电阻率较大变化，这种影响对四探针法更为严重，故不推荐用四探针法测量多晶材料的电阻率。
本仪㊣器主要由电气测量部份（简称：主机）、测试台及两探针头组成。仪器∑ 的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适□时监测全程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，更及时掌控测①量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机配有◣恒流开关，在测量某些材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花∴的发生，更好地保¤护被测材料。仪器配置了本公司的专利产品：“小游移探针头”，间距为1.59mm的两探针头探针游移率在↘√0.2%以下。保证了仪器测量电阻率的重复性的准确度。本机可配用HQ-710C数据处理器，置入必须的数据后，处理器会配合探头在硅棒上移动测量，自动计算、打印出各点的▼电阻率、正反向电阻率平均值、电阻率的最大值、电阻〗率最小值，给测量带来很㊣大方便。
2、主机技术参数
（1）测量范围：
可测硅晶体电阻率：0.005-50000Ω?cm
可测硅棒尺寸：最大长度300mm；直径20mm（均可按用户要求更改）。
（2）恒流源：
输出电流：DC0.001-100mA 五档连续可ぷ调
量程：0.001-0.01mA（1-10μA）
0.01-0.1mA（10-100μA）
0.1-1.0mA
1.0-10mA
10-100mA
恒流精度：各档均优于±0.05%
（3）直流数字电压表：
测量范围：0-199.99mV
灵敏度：10μA
基本误差：±（0.004%读数±0.01%满度）
输入阻抗：≥0.3%
（4）电阻测量误差：≤0.3%
（5）两探针头：KDT-9
探针间距：1.59±0.01mm 探针直径Φ0.8mm
游移率：＜0.2% 探针材料：硬质合金（WC）
探针压力：3±1N/单针
（6）供电电源：
AC 220V ±10% 50/60 Hz. 功率：12W
（7）使用环境：
温度：23±2℃ 相对温度：≤65%
无较强的电场干扰，无强光直接照射。
（8）重量、体积：
主机重量：7.5Kg
体积：390×340×190（单位：mm 长度×宽度×高度）
