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                植物根系X-光扫描成像分析№系统

                植物根系X-光扫描成像々分析系统
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                • 植物根系X-光扫描成像分≡析系统
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                上海泽泉科技有限公司
                上海
                详细说明

                植物根系X-光』扫描成像分析系统植物根系X-光扫描成像分析系ㄨ统
                全球第一款为植物根系拍摄X-光照片的系统
                植物根系研究领域继根视(rhizotron)系统后最激动人心的发明
                荣获美国R&D100大奖的产品

                美国Phenotype Screening公司的植物根▅系X-光扫描成像分析系¤统RootViz FS是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统,用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析,可以拍摄根系的立体X-光照片

                这套系统是植物根系研究领域继根视(rhizotron)系统(如加拿大Regent WinRHIZO根系△分析系统)后最激动人心的发明。根视系统需♂要将根取出清洗后,借助扫描仪进行分析,这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分,而且属于离体分析,不能进№行动态监测。而植物根系X-光扫描分析系统是非破坏性的原位分析系统,可以全方位分析植物根系所有部【分(包括根尖等),并且可以在植物生长的不同阶段对→根系的生长进行长期动态监测。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应。
                植物根系X-光扫描成○像分析系统


                根系X-光成像示意图
                植物根系系统生长在特制的X-光可穿透的培养容器和培养介质中,一侧用低能数字X-光发射器♀发出X-射线,另一侧利用X-光相机进行检测。X-光发射器前带有可开关的防护门,当门关闭后,所有X-射线被屏蔽掉。仪器外壳带有内锁,不会发生X-光泄漏。

                植物根系X-光扫描成像分析】系统


                植物根系X-光扫∮描成像分析系统
                根据⊙植物体型差异,可以选∮择不同大小的分析系统。整套系□统完全由软件控制,可以通过两次测量获得植物根系的立体照片。









                植物根系X-光扫描成像分≡析系统

                植物根系X-光扫描成像分析■系统

                植物根系X-光扫描成像分析系统

                小型分析系统

                大型分析系统

                大型分析系统的内部构造

                 

                 

                植物根系X-光扫描成像分析系统

                长在小型培养容▲器中的玉米出苗16天后的根系照片。分辨率2000 x 7000像素,利用红/蓝立体眼镜可观看立体效果。

                植物根系X-光扫描成像分析系统
                长在大型↓培养容器(150 mm x 600 mm)里的大豆根系X-光照片,分辨率5000 x 20000像素。采用大型培养容器时,不能拍摄立体照片。


                特⌒ 制培养容器和介质
                Phenotype Screening公司提供多种特制〗培养容器和介质,满足不同植物和植物生长不同阶段的需要。培养容器大小可从50 mm宽 x 200 mm高至 150 mm宽 x 600 mm高。特殊体积可定制。




                植物根系X-光扫描成像分析系统
                植物根系X-光扫描成像分析系统


                植物根系X-光扫描成像分析系统


                应用实例一:根系生长发育的动态监测

                植物根系X-光扫描成像分析系统

                植物根系X-光扫描成像分析系统

                植物根系X-光扫描成像分析系统

                植物根系X-光扫描成像分析系统

                植物根系X-光扫描成像分析系统

                植物根系X-光扫描成像分析系统

                植物根系X-光扫描成像分析系统

                第4天

                第7天

                第10天

                第13天

                第16天

                第28天

                第40天

                玉米出苗后40天的根系动态生长监测
                利用/蓝立体眼▂镜可以观看立体效果

                应用实例二:不同品种↑间根系的差异

                植物根系X-光扫描成像分析系统

                两种水稻(Ra4993和Ra5531)的不同变种间根系的差异,利用植物根系X-光扫描分析系统可以容易的进行分∩析,而传统的洗根后扫描的方法会将根系间的角度差别忽略掉
                利用/立体眼镜可以观看立体效果

                应用实例三:根系系统分类】

                植物根系X-光扫描成像分析系统


                利用肉眼很难区分不同变种的植物根系。而借助植物根系X-光扫描分析系统的结果,以侧根密度和主根长度为坐标轴得出的散点图,可以对大豆变种的根系进行分类。上图中,多根变种分布于中心线的上部,而正常品︻种分布于中心线的下部。将这两个品种杂交后,这种方法可用于快速扫描后代的多根特性。

                应用实例四:根系对胁迫响应
                特制培养介质不含营养盐、水分和任何害虫,因此研究人员可方便的添加不同营养盐、水分和害虫进行胁迫响应研究。

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