纳米级物质成像、分析和控制 — 这些未来研发的关键因素 — 因 Helios NanoLab DualBeam 系列仪器的诞生而变得普通平淡。 这些仪器融合了扫描电子显微镜 (SEM) 和聚焦离子束 (FIB) 技术，包括创新的气体化学、检测器和操纵器。 凭借无与伦比的 SEM 分辨率、图像质量和令人惊叹的 Tomahawk FIB 性能，半导体和数据存储实验室、研究机构和工业界均可轻松快捷地实现样品成像、铣蚀或制备。
仪器（设备）所属领域：扫描电子显微镜
应用领域：高校材料、化工等学院实验室，大型企业实︼验室。
