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超高分辨率成像和高吞吐量的2D和3D的分析性能。
FEI Scios是一个DualBeam系统,可提供出色的性能,适用于范围广泛的样品 - 即使是磁性或非导电材料。与旨在增加吞吐量,精度和易用性的创新功能,在FEI Scios是理想的跨学术,政府和工业环境中的先进研究应用。
仪器(设备)所属领域:扫描电子显微镜