NTEGRA Prima为你的研究带来无限自由。该系统既可以用来研究小尺寸的、也可以大尺寸▆的、甚至巨大的样品。NT-MDT的双扫描模式（DualScan）使SPM扫描范围可达到200µm，扫描头作为一个可移动的、独立装置，使得测量不受样品尺寸限制成为可能。
NTEGRA Prima的标准配置包括在大气卐环境甚至液体环境中得到原子ㄨ分辨图像的基本配置。NTEGRA Prima不仅提供了所有传统技术，例如形貌、相位、磁力测量，它还包括许多NT-MDT独一无二的技术，例如，NT-MDT扫描电容显微镜，它以史无前例的精度〇（1aF）对样品表面电荷载流子浓度的变化进行成像，创造了电容测量的国际标准。NT-MDT的另一项专有技术原子力声学显微镜（AFAM），是对弹性进行高级研究的最新工具，它只需附加一个简单易安装的附件。AFAM利用局域弹性，可以对畴和结构进行直接的▼、非破坏性的成像，还可以对杨氏【模量和其它如粘弹力、摩擦力在内≡的表面参数进行直接、定量地测量。
在原子尺度工作时，定位精度非常的关键。为了确保▲精度，所有NTEGRA 系列产品都特别的设计了内置←、闭环的电容传感器。即使当扫描区域小到50×50nm，因其超低的噪音水平（典型『值小于0.1nm）仍然能在使用内置传感器的情况下对样品表面进行成像和修饰。可靠的扫描◥反馈确保可高精度的定量测量针尖和样品表面间的相互№作用力。
对于NTEGRA而言，NTEGRA Prima 仅仅只是一个基础、核心，它所创建的纳米实验室设计了完全开放的硬件、软件和信号集成的结构，为与其它仪器集成提供了接口和平台。它可以和高级↓光谱仪、超薄切片机、大规模筛选（high-throughput screening）以及加热附件等结∮合，形成新一代的集成分析仪器。无论你需√要的是简单的还是更加的完善和复杂╲的SPM，NTEGRA Prima都能提供良好的平台，保证你成功的』成像和测量。
特色介绍
l 装有一个带集成电容传感器的可更换扫描器，可获得的扫描范围：100x100x12 µm
l 双扫描模式（DualScan）是NT-MDT独有的技术，它采用一个可更换的底部扫描器(100x100x12µm)和一个顶部扫描器(100x100x10μm)，使总的扫描范围达到：200x200x22μm；
l XY非线性：校正后，峰峰值0.05%，在整个扫描范围内，X-Y平面的定位精度保持在10-20纳米内；
l NTEGRA的控制器和机械部件可以在■高达5 MHz的高频下工作，因此仪器可以使用高共振频率的悬臂，从而得到更加完美的图∮像；同样这使得原子力声学显微镜（AFAM）的应用成为可能。该系统可以用于研究高电阻材料，例如半╳导体上的薄膜绝缘层、DLC和压〇电薄膜、导电聚合物∞等。
l 低热漂移和热稳定性（特殊材料：钛）
l 友好的操作软件和强大的脚本语言控制——NT-MDT独有
l 光学垂直方向分辨』可达0.4um (使用高数值孔径的头部), 可倒置观♂察样品——NT-MDT独有
l 整体设计的液体池，可选配加热装置◥和超小液体池（200微升）
l 纳米刻蚀操作软件
l 整体设计的防磁、防电、防声屏蔽罩
l 低真空操作环境∏可选
l 内置湿度、温度传感器，LCD液晶显示
l 通气孔设计可⊙提供气体控制
l 对样品尺寸无限制
3．应用介绍
生物学和生物技术
蛋白质、 DNA、病毒、细菌、组织等
材料科学
表面形貌形态、压电性质、粘滞力★分析、摩＠擦特性分析等
磁材料
磁畴结构成↘像、观察因外部磁场引起的磁性的反转、不同〒温度下的磁结构变化等
半导体和电学性质测量
硅片等材料的表面形貌、表面电势和电容测量、表面〖电荷分布图、掺杂浓度分＠ 析、失效分析（局域导电性和绝缘层漏电流）
聚合物和有机薄膜
球状或柱状晶体、聚合物单晶材料、聚合物纳米颗粒、LB 膜、有机薄膜♀等
数据存储
CD, DVD 盘
纳米材料
纳米粉体、纳米复←合材料、纳米多孔材◆料、
纳米结构材料
富勒烯、碳纳米管、纳米丝、纳米胶囊
纳米电子学
量子点、纳米线、量子结构
纳米机械学
AFM 纳米刻蚀：力（直↑流电和交流电）、电流（局部阳极氧化）、STM 纳米刻蚀
纳米操纵
接触力
1. NTEGRA-Prima
NT-MDT独有的双︻扫描模式（DualScan）使总的扫描范围达到：200x200x22μm，对样品尺寸几乎无限制
这套系统可以用于研究高电阻的材料，例如在半导体基体上的々绝缘薄膜，DLC和压电薄≡膜，导电聚合物等
This system can be used in research of high-resistance materials such as thin dielectric layers on semiconductors, DLC and piezo-films, conductive polymers etc.
2. NTEGRA-Aura
NTEGRA Aura allows measurements in low vacuum environment,
Additional possibilities are provided by a temperature table with sample heating up to 300 oC degree Celsius and the accuracy of temperature maintenance 0.05 oC.
Measurements in a controlled gas atmosphere are possible as well.
3. NTEGRA-Vita
可选用不★同的液体槽：密封的化学▲稳定的液体槽，可以进行升温控制；用于在培养皿中进行操作的封闭式液体槽；可更换的加热器。
Different liquid cells are available: hermetic chemically stable liquid flow cell with a possibility of the temperature control at elevated temperatures; closed liquid flow temperature controlled cell for operating with Petri dishes; replaceable heater
4. NTEGRA-Maximus
NTEGRA Maximus 基座是一个带有传动平☆台的可更换的▃中央部件。样品在50mm内可在XY方向上自由移动，且可以进行0-360度旋转。
NTEGRA Maximus basement is a changeable center unit with a motorized stage. Sample movement is possible within 50mm by X,Y and within 0-360 degrees under rotation
许多小样品也可以在 NTEGRA Maximus上进行◥自动测量，且提供高质量的成像效果。
Automated measurements of many small samples are also possible with NTEGRA Maximus enabling high throughput screening.
5. NTEGRA-Solaris
集成到中央基座上的倒▲置式显微镜使系统具※有高的刚性，保证了系统的稳定性々，从而不仅可以获得高质量的成像效果，且可进行长时间的研究㊣ 。
The integrating of the inverted microscope objective into the central base because of high mechanical rigidity provides stability of the system making quality images and long-term experiments possible
6. NTEGRA-Spectra
通用的PNL平台为将扫描共聚焦显微镜、常规的AFM和分光镜⌒联用提供了可能性，从而可以探测拉曼散射光谱，进而可以得到很多与样品化学组成有关的复杂信息。
The universal PNL platform provides the possibility to integrate scanning confocal scheme in combination with regular AFM and spectrometer to detect Raman scattering spectrum. This spectra may then be interpreted into complex information concerning chemical composition of the object.
7. NTEGRA-Therma
专用的热学头部可提供非常低的热漂移(小于10 nm/°C)，保证了针尖√-样品系统的稳定性。这样可以对『样品表面选定的点进行长时间的研究。
Special Thermo head provides extremely low thermal drift (less than 10 nm/癈) ensuring high stability of the tip-sample system. This allows long-term measurements to be done in pre-defined point on the specimen surface.
8. NTEGRA-Tomo
超薄切片机可以制备Ψ用于原子力显微镜研究的纳米片层和新鲜表面。因此，可以研究表面的物理性质和重构后的3维图像
经过NTEGRA Tomo处理后的片状样品可以用于透射电镜分析。
Ultramicrotome makes nanoslices of a sample and a freshly cut surface is then measured by AFM. Thus, many physical properties of a surface are studied and 3D-volume imaging is available after the reconstruction.
After the NTEGRA Tomo operation sample slices stay available for TEM analysis
