样品尺寸

40x40x10mm

扫描器

3x3x1um ( ± 10%); 10x10x2um( ± 10%); 50x50x3 um ( ± 10%)

最小扫描步长

0.0004 nm; 0.0011 nm; 0.006 nm

扫描类型

样品扫描式

SPM头部

AFM
STM:
30pA - 50nA, 4 p时的ARMS 噪音 (标准的前置放大器),
10pA - 5nA, 1.5 p时的ARMS噪音 (低电流◎前置放大器)
剪切力

光学观察系统●

数值孔径 0.1
放大倍数58x to 578x
水平视野 5,1~ 0,51mm

控制系统

SPM 控制箱

振动隔离系统

集成有被动隔离系统
如果需要也可用主动隔离系统

项目

Solver P47 优点

操作模式

1.合理的操作模式：
a. 扩展电阻成像：这个模式『在表征半导体的应用中非常有用，因为在该模式下，我们可以利用W2C 或TiO涂层的硅悬臂来测得样品上某一点的导电率，然后和该点的表明形貌进行比较。
b.  粘附力模式：在扫描过程中︽，可以同时得ぷ到力－距离曲线和力的值。
c.  剪切力模式：可以用来〓实现SNOW系统。
d. SKM对半导体表面成分分析十分有用。
e. RM和电压刻蚀：利用这两个模式可以在纳米尺度实现机械和电压表面修饰。
2.集成测▲量头
在一次扫描过程中，可以同时◣得到4种不同︼的信息。

扫描器

NT-MDT提供一╳套用于校正的标准光栅（6片），用其进行扫描器的校正和针尖质量的控制。。

样品大小

大样品↑也可以进行测量。

光学观测系统

多样的光学观测系统配置可∩以完全满足客户的需求。

针尖与样品的驱近

1. 驱近系统的机械设计可使得〒经过几次驱近之后仍然能获得相同的检测区域。扫描→位移大约为500nm，这个特点可以让您在几周内仍▅然能够研究相同的样品★区域。
2. 在完成驱近之后，可以对所要检测的区域进行卐自动扫描，因此实验人员只需很短的时╱间便可以在SPM上获得检测结果。
3. 允许手动驱近。

电子学

每个轴（X,Y和Z）通过2个16位DAC来实现22位的扫描精度，再加上极低◆的系统噪音，所以Solver使用50mm的扫描器也能实现原子级分辨率。

计算机

我们的显微镜可以→在任何兼容计算机机上进行操作。如果您∑不想购买额外的计算机，那么您还可以将这台用于SPM的计算机用⌒于其他用途。

软件

多样的图』像处理方法；
图像处理软件可以免费在http://www.ntmdt.ru网站上下载；
可以处理DI,PSI, Topometrix和其他SPM厂Ψ 家的数据文件样本；
可〓以根据用户需要来定制软件。

隔震系统

在通常的∑　实验室中，不需︽要增加额外的隔震系统（在通常的实验室环境下就可●以得到原子级图像）。

其他优点

钛合金结构和独特的SPM测↓量系统设计提供了最低的热漂移，让您可以打开系统之后马∏上就可以开始测量々了。
在这方面，NT-MDT尽全力满足客户的期望。