仪器介绍
对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在⌒小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料的非常有效的技术。它能够产生很》多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G2 20经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场/暗场图像、STEM图像、电子衍射和详细的微观分析有机ζ的结合起来, 使Tecnai G2 20成为材料分析研究的重要仪器。
Tecnai G2 20可以根据不同用户的配置要求供货。标准型仪器提供了已被证实的♂多项先进技术: 既可得到高分辨图像又保持高倾角(最大40°)的S-TWIN物镜, 提供样品精确控制★和机械稳定性优异的CompuStage样品台。Tecnai G2 20可以安装完全集成式』设计的数字化的STEM(透射扫描附件)、EDX(能谱仪)和能量过滤或PEELS(能量损失谱)。这些技术可结合起来完成频谱分布和频∑谱图像的分析工作。Tecnai G2 20为材料分析研究用户提供了稳定性、操作方便性和高性能的优异组合。无论是在常规分㊣ 析, 还是亚☆微米研究, Tecnai G2 20都能够满足日益▼增多的样品数量。
为满足结构生物学研究╲的需要，FEI公司〖还设计制造了配置TWIN物镜和Cryo冷冻样品台的专门系统: Tecnai G2 20 TWIN
其主要〓技术特点：
- TWIN物镜系统, 点分辨率 0.27nm
- 样※品最大倾角 +/- 70°
- Cryo液氮冷冻样☉品台及冷冻转移设备
- 全自动化的数◆据采集和数据处理系统
技术参数
1.LaB6灯丝或钨灯○丝
2.点分辨率
U-TWIN 0.19nm
S-TWIN 0.24nm ; TWIN 0.27nm
3.加速电压 20-200kV,连续可调
4.放大倍数 25x - 1100kx
5.样品最大倾角: S-TWIN +/- 40° ; TWIN +/- 70°
6.计算机控制的全数字化电镜,基于Windows XP的用户界面
主要特点
1.100%数字化系统
2.FEI专利技术S-TWIN/U-TWIN物镜
3.CompuStage样卐品台提供高精度的样品位置控制
4.全连锁的洁净的真空系统
5.可选完全集成化的各种附件, 如能谱仪、CCD相机等
