摘要：本实用新型涉及一种光学材料折射率曲线测量装置。包括用于测量待测光学材料不同波长的群折射率值的宽带光相干干涉系统及用于测量该待测光学材料在一确定的激光波长下对应的折射率值的激光双缝干涉系统，结合待测光学材料不同波长的群折射率值及其在确定的激光波长下对应的折射率值，即可得到待测光学材料在整个波长范围的折射率曲线。本实用新型结构简单，易于实现，简化了传统复杂的光学材料折射率曲线测量操作步骤。
- 专利类型实用新型
- 申请人福州大学;
- 发明人钟舜聪;张秋坤;钟剑锋;
- 地址350108 福建省福州市闽侯县上街镇大学城学园路2号福州大学新区
- 申请号CN201520686530.6
- 申请时间2015年09月08日
- 申请公布号CN205049478U
- 申请公布时间2016年02月24日
- 分类号G01N21/45(2006.01)I;
