摘要：本发明涉及一种光学材料折射率曲线测量方法及装置。该方法，首先通过一宽带光相干干涉系统测量待测光学材料不同波长的群折射率值；其次，通过一激光双缝干涉系统测量待测光学材料在一确定的激光的波长下对应的折射率值；最后，采用积分算法结合上述的测量结果对待测光学材料在整个波长范围的群折射率值进行计算，进而得到待测光学材料在整个波长范围的折射率曲线。本发明简化了传统复杂的操作，实现材料在整个波段的折射率曲线的简易测量，是一种快速便捷的高精度的实用性强的材料折射率测量方法。
- 专利类型发明专利
- 申请人福州大学;
- 发明人钟舜聪;张秋坤;钟剑锋;
- 地址350108 福建省福州市闽侯县上街镇大学城学园路2号福州大学新区
- 申请号CN201510562661.8
- 申请时间2015年09月08日
- 申请公】布号CN105115940A
- 申请公布时间2015年12月02日
- 分类号G01N21/45(2006.01)I;
