摘要：本实用新型公开了一种数控装置老化自动测试设备，包括老化箱单元，电气柜单元，老化状态实时监控单元；所述老化箱包括箱体和温度控制器；所述电气柜单元包括供电模块、伺服驱动器和√伺服电机；所述实时监控单元包括信号采集电路板、置于箱体内的温度传感器、和采集并处理老化过程中箱体内状态数据控制模块。本实用新型能满足批量测试需求，安全、高效，并且能够实时处理信息得出统计规律。
- 专利类型实用新型
- 申请人武汉华中数控股份有限公司;
- 发明人周岐荒;李敏;王鹏贺;鲜飞;沈应龙;胡少云;周丹;胡洁;
- 地址430223 湖北省武汉市东湖开发区华工科技园
- 申请号CN201420735630.9
- 申请时间2014年11月28日
- 申请公布号CN204229185U
- 申请公布时间2015年03月25日
- 分类号G05B19/406(2006.01)I;
