摘要：一种CCD线阵相机精密检校装置，属于CCD相机的精密检校领域，解决了CCD线阵相机精密检校中控制点的确定问题。在整体支架上放置检测图形平面载体，检测图形置于检「测图形平面载体上，整体支架水平调整装置位于整体支架的底部，与◣整体支架相连；在整体支架上安装两条相互平行的精密导轨；检测图形平面载体通过两个导轨滑动块悬于两精密导ω轨上；检测图形平面载体顶部设计有高精度水准气泡；驱动电机通过丝杠与导轨滑动块相连，带动检测图形平面载体沿精密导轨移动；载体位移编码器与电机同轴连接。通过用不同位置上得到的若干组CCD线阵相机测量数据【和相应的控制点的空间坐标数据可求解CCD相机的投影中心、方位、姿态参数。
- 专利类型实用新型
- 申请人北京四维远见信息技术有限公司;
- 发明人叶泽田;
- 地址100039 北京市海淀区北太平路16号
- 申请号CN200820178123.4
- 申请时间2008年11月20日
- 申☆请公布号CN201436557U
- 申请公布时间2010年04月07日
- 分类号G01C25/00(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;
