摘要：本发明涉及气体的在位测量方法，特点是：光源发出的测量光在光源和探测器之间形成测量光路，测量光路上具有测量区域和非ζ测量区域；所述非测量区域内通有第一气体，第一气体中含有被测气体；第一气体经过气流延时后进入非测量区域；在气流延时前或延时中，测得第一气体中被测气体的浓度；分析测量光在测量区域和非测量区域的衰减，并利用第一气体中被测气体的浓度，从而获得测量区域内被测气体的浓度。本发明具有测量精度高等优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人聚光科技(杭州)股份有限公司;
- 发明人林德宝;陈生龙;战宏亮;俞大海;
- 地址310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号
- 申请号CN201010622384.2
- 申请时间2010年12月31日
- 申请公布号CN102175642B
- 申请公△布时间2012年12月12日
- 分类号G01N21/39(2006.01)I;G01N27/407(2006.01)I;G01N24/10(2006.01)I;G01N21/25(2006.01)I;
