摘要：本发明公开了一种在位式气体测量方法，包括以下步骤：a、向光发射和/或光接收区域内通吹扫气体，吹扫气体中含有待测气体成分；b、光源发出测量光；c、测量光中包含的第一光束和第二光束在穿过待测气◆体之前或之后被分开；其中，第一光束穿过了吹扫气体、待测气体，经吸收后被接收，得到包含吹扫气体、待测气体信息的第一信号；第二光束穿过了光发射区域内的吹扫气体，经吸收后被接收，得到包含吹扫气体信息的第二信号；d、处理第一信号和第二信∞号，得到待测气体的参数。本发明还公开了一种用于实卐施上述方法的在位式测量装置。本发明具有结构简单、安装调↙试容易、成本低、测量精度高等优点，可广⌒泛应用在冶金、化工、水泥、环保等领域中。
- 专利类型发明专利
- 申请人聚光科技(杭州)股份有限公司;
- 发明人黄伟;顾海涛;王健;
- 地址310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号
- 申请号CN200810121178.6
- 申请时间2008年10月09日
- 申请公布号CN101393115B
- 申请公布时间2011年09月07日
- 分类号G01N21/17(2006.01)I;G01N21/00(2006.01)I;
