摘要：本发明↓提供了一种TDLAS气体检测方法及系统，所述方法包卐括：半导体激光『器出射的线激光入射到传输光纤；传输光纤出射的线激光入射到全反射镜；全反射镜将线激光反射后入射到垂直放置的气室；入射到气室的线激光经第一透镜组反射后从线激光的入射面出射；分析装置接收垂直放置的气室出射的线激光进行检测，混合气体由于各个气体的比重不同，在垂直♂放置的气室中分层，激光入射到垂直放置的气室内后，经过第ぷ一透镜组反射后从激光的入射面出射，激光可以照射到垂直放置的气室中的每一层气█体，防止出现气体漏检的情况，减小混合气体检测的误差。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京雪迪龙科技股份有限公司;
- 发明人梁学军;
- 地址102206 北京市昌平区回龙观国际信息产业基地3街3号
- 申请号CN201310741792.3
- 申请时间2013年12月27日
- 申请公布》号CN103645156B
- 申请公布时间2016年03月02日
- 分类号G01N21/39(2006.01)I;
