摘要：本发明实施例公开了时域OCT测量的方法，包括：控制时域光学相干层析成像OCT系统○的样品臂的照射光路，以对预设在时域OCT系统中的样品进行测量；根据对样品的测量结果，分析得出当前时域OCT系统的探测深度值；根据探测深度值测量得出被测物体的厚度值。相应地，本发明还公开了时域OCT系统。采用本发明，通过对预设在时域OCT系统中的样品进行自动的校准测量，分析得出当前时域OCT系统的探测深度值，从而使探测深度值得到了校准，解决了现有技术中由于振镜系统工作的↓不稳定或工作时发热、环境温度的变化等使测量结果与实际结果产生偏差的问题，有效避免测量结果与实际结果产生的误差，提高时域OCT系统测量的准确度。
- 专利类型发明专利
- 申请人深圳市斯尔顿科技有限公司;
- 发明人代祥松;蔡守东;黄成;
- 地址518000 广东省深圳市龙岗区坪地坪西社区深惠路兰陵商业街综合楼B2栋一、二层
- 申请号CN201010239896.0
- 申请时间2010年07月28日
- 申请公布号CN101915547B
- 申请公布时间2012年05月02日
- 分类号G01B11/06(2006.01)I;A61B5/107(2006.01)I;
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