摘要：本发明公开了光学透镜中心厚度测量系统及方法，该系统包括光源，所述光源连接有分光装置，分光装置和光学探头正对且中心位于同一轴上，所述分光装置的一端还连接有光谱仪，光谱仪连接到计算〗机上。该方法为：光源发出的多色光经过分光装置进行光线耦合后进入光学探头；经过光学探头的多色光射到被测零件上发生反射、折射；反射回探头的光通过分光装置后进入到光谱仪；光谱仪根据返回光的能量分析得出不ω同波长光的能量曲线图；将所得的数据传输给计算机，通过公式进行计算得出透镜中心厚度，并显示出来。本发明在测量◣时简单便捷、数据精准，且非接触的测量方法不会损坏零件，作为光ぷ学透镜中心厚度测量系统及方法广泛运用于光学零件的精密测量。
- 专利类型发明专利
- 申请人广州标旗电子科技有限公司;
- 发明人宋光均;吴剑峰;郑祥利;
- 地址510640 广东省广州市天河区金颖路1号√金颖大厦1711室
- 申请号CN201110405930.1
- 申请时间2011年12月08日
- 申请公布号CN102435146A
- 申请公布时⌒ 间2012年05月02日
- 分类号G01B11/06(2006.01)I;
