1分彩

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                教育装备采购网首页 > 知识产权 > 专利 > CN104296671A
                
            
                
                
                
                    
                
                        

                        
                        
                    
                
                
                
            
                
        
                
        
                
            
                
                
                测量AR减反膜厚度和折射率的方法
                
                
                
                
                
                    
                　　摘要：本发明公开了一种测量AR减反膜厚度和折射率的方法，本发明的AR减反膜测量⌒　方法涉及的装置结构简单，测量速度快，测量准确的特点，与椭偏仪相比，本测量方法无活动部件，所以运行的可靠性很高，同时信号采集速度也很高，所以可以用于在线测量。
                
                    
                    
                  
                        
                • 专利类型发明专利
                  • 
                        
                • 申请人苏州精创光学仪器有限公司;
                  • 
                        
                • 发明人尚修鑫;
                  • 
                        
                • 地址215300 江苏省苏州市昆山市开发区章基路189号
                  • 
                        
                • 申请号CN201410603824.8
                  • 
                        
                • 申请时间2014年11月03日
                  • 
                        
                • 申请公布号CN104296671A
                  • 
                        
                • 申请公布时间2015年01月21日
                  • 
                        
                • 分类号G01B11/06(2006.01)I;G01N21/55(2014.01)I;
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