【全反射X射线荧光光谱仪】
功能作用介绍：
全反射X射线●荧光光谱仪由杭州电子科技大学材料与环境工程学院季振国、席俊华与北京普析通用仪器有限责任公司共同合作设计制造，能够定性、定量的检测样品中的元素成分。不同于普通X射线荧光光谱仪，本仪器利用X射线的全反射性质，在全反射状态下进行X射线荧光分析，从而消除样品衬底的影响，对薄膜样品的元素分析有得天独厚的优势。
技术参数：
l 最低绝对检出限：pg级;
l 最低相对检出限：ng/mL级;
l 同时分析元素数量：近30种;
l 分辨率：小于175eV;
l 测量元素范围：可以从11号元素Na到92号元素U。
作品名称：全反射X射线荧光光谱仪
完成单位：杭州电子科技大学、北京普析通用仪器有限责任公司
