[ 会议基本信息 ]

　　会议名称(中文)： 2012年第〓十九届物理和集成电路失效分析国际会议

　　会议名称(英文)： 2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2012)

　　所属学科： 基础物理▓学,光电子学,电力电子

　　开始日期： 2012-07-02

　　结束日期： 2012-07-06

　　所在国家： 新加坡

　　所在城市： 新加坡

　　具体地点： Singapore, Singapore

　　主办单位： Electron Devices Society - ED

　　[会务组联系方式 ]

　　联系人： Jasmine Leong

　　联系电话： +65 67432523

　　传真： +65 67461095 (fax)

　　E-MAIL： ipfa@pacific.net.sg

　　会议背景介绍：

　　Devoted to fundamental understanding of the physical mechanisms of semiconductor device failures and issues related to semiconductor device reliability and yield, especially those related to advanced process technologies.