产品介绍：
主要用于超薄玻璃，薄膜，柔性器件（OLED,QLED,OPV,钙钛矿光伏...）等的反复卷曲&折弯测试，同时可实现测试过程中发生的折痕，隐裂,光学,电学等的测试.也可提供温 /湿度环境下的测试.
| 目录 | 描述 | |
样品 | 可测Z大样品宽度：300mm 可测Z大样品长度：440mm 如需测试╲更大样品，可根据需求定制. | |
弯曲 | 弯曲方式：动态内→部弯曲，静态 弯曲次数：100万次 R设置：1~10R 弯曲角度：0~180° 弯曲速度：Z大限度 1秒/周期，Z小限度 5秒/周期 | |
选项1 （光学测试） | 光照：中央位置 功能：自动/手动 | |
选项2 （环境测试） | 温度：-40℃~100℃ 湿度：30%~98% | |
