宽频介电阻抗谱仪
高低温介电温谱/频谱测量系统
一、 概述：
高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。
三、整机组成：
1、加温装置：采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成，有◥着良好地保温隔热和升温性能
2、控制系统：可实现对温控升温、降温控制，同时对4路试样进行切换，实时测控测试数据
3、LCR电桥：20HZ-2MHZ
宽频介电阻抗谱仪
二、技术指标：
1、电极直径：10mm 数量：4个
2、电极材料：铂金
3、测试电极：一通道
4、切换频率：可以自由设定试样切换时间
5、试验方式：手动模式 自动模式
6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告
7、测量频率：以实际电桥为准
8、温度范围：室温~950°精度±0.1°C
9、加温速率：2℃--10℃/min
10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线
10、机 箱：Q235钢板表面高温喷塑而成
11、仪器供电：AC:220V 50Hz 功率：2KW
12、测试电桥：国产
13、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。
仪器使用时应远离强╳电磁场，以免干扰实验结果。
宽频介电阻抗谱仪
四探针『电阻率测试仪
产品名称：四探针电阻率测试←仪
产品型号：GEST-126
产品概述
该仪器按照单晶硅物理测试方法guo家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既ㄨ可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
仪器采用√了guo新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试
宽频介电阻抗谱仪
