GCSTD-D
性能特点
■ 测试频率20Hz~2MHz,10mHz步进
■ 测试电平10mV~5V, 1mV步进
■ 基本准确度0.1%
■ 最高达200次/s的测量速←度
■ 320×240点阵大型图形LCD显示
■ 五位读数分辨率
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出ㄨ阻抗
■ 10点列表扫描测试功能
■ 内部自带直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 图形扫描分析功能
■ 20组〗内部仪器设定可供储存/读取
■ 内建比较器,10档@分选及计数功能
■ 多种通讯接口方便用户联机使用
■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
■ 中英文可¤选操作界面
■ 可通过USB HOST 自动〒升级仪器工作程序
简要介绍
广泛的测量对象
无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的¤阻抗参数评估和∞性能分析。
半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参@ 数分析
其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电☆池等的阻抗评估
介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半☆导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料:液晶单元的介■电常数、弹性常数等C-V特性
高低频介电常数测试仪
技术参数
测试参数 |
C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR |
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测试频率 |
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20 Hz~2MHz,10mHz步进 |
测试信号电 |
f≤1MHz |
10mV~5V,±(10%+10mV) |
平 |
f>1MHz |
10mV~1V,±(20%+10mV) |
输出阻抗 |
10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω |
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基本准确度 |
0.1% |
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L |
0.0001 uH ~ 9.9999kH |
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C |
0.0001 pF ~ 9.9999F |
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R,X,Z,DCR |
0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ |
显示范围 |
Y, B, G |
0.0001 nS ~ 99.999 S |
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D |
0.0001 ~ 9.9999 |
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Q |
0.0001 ~ 99999 |
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θ |
-179.99°~ 179.99° |
测量速度 |
快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s |
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校准功能 |
开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准 |
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等效方式 |
串联方式, 并联方式 |
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量程方式 |
自动, 保持 |
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显示方式 |
直读, Δ, Δ% |
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触发方式 |
内部, 手动, 外部, 总线 |
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内部直流偏 |
电压模式 |
-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 |
置源 |
电流模式(内阻为50Ω) |
-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 |
比较器功〓能 |
10档分选及计数功能 |
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显示器 |
320×240点阵图形LCD显示 |
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存储器 |
可保存20组仪ㄨ器设定值 |
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USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) |
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USB HOST(FAT16 and FAT32 support) |
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接口 |
LAN(LXI class C support) |
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RS232C |
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HANDLER |
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GPIB(选件) |