高频介质损耗测试仪
高低频介电常数测试仪
GCSTD-D
一、满足标准：
GBT 1409-2006测量电气绝』缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
二、试验方法：
接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料
非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料
电极类型：固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套，标配为38mm)
液体电极-液体容量15ml
粉体电极-根据样品量可配专用电极
试样类型：固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物
五、随机配置
1、主机：1台
2、测试电极：1套
3、数据线：1套
4、电源线：1根
5、合格证：一份
6、测试系统：一套
六、技术参数
测试参数 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
测试频率 | 20 Hz～2MHz,10mHz步进 | |
测试信号电 | f≤1MHz | 10mV～5V,±（10%+10mV） |
平 | f>1MHz | 10mV～1V,±（20%+10mV) |
输出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
基本○准确度 | 0.1% | |
L | 0.0001 uH ～ 9.9999kH | |
C | 0.0001 pF ～ 9.9999F | |
R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ | |
显示范围 | Y, B, G | 0.0001 nS ～ 99.999 S |
D | 0.0001 ～ 9.9999 | |
Q | 0.0001 ～ 99999 | |
θ | -179.99°～ 179.99° | |
测量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
校准功能 | 开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准 | |
等效方式 | 串联方式, 并联方式 | |
量程方式 | 自动, 保持 | |
显示方式 | 直读, Δ, Δ% | |
触发方式 | 内部, 手动, 外部, 总线 | |
内部直流偏 | 电压模式 | -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 |
置源 | 电流模式（内阻为50Ω） | -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 |
比较器功⌒ 能 | 10档分选『及计数功能 | |
显示器 | 320×240点阵图形LCD显示 | |
存储器 | 可保存20组仪器设定值 | |
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | ||
USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | ||
接口 | LAN(LXI class C support) | |
RS232C | ||
HANDLER | ||
GPIB（选件） | ||
高频介质损耗测试仪
本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
能对固体绝缘材料在100kHz～100MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化●的测试※。
调谐回路残■余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
特制TFT彩屏菜单√式显示多参数：介电常数(ε),介质损耗角(tanδ),Q值，测试频率，调谐状态和调谐电容值等。
Q值量程自动/手动量程控制。
DPLL合成发生1kHz～70MHz（WY2852A/D）,50kHz～160MHz（WY2853A/D）测试信号。独立信号源输◆出口，所以本机又是一台合成信号源。
测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
2 主要技术指标：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固体绝缘材料测※试频率100kHz～100MHz的tan δ 和 ε 变化的测试。
2.1.2 tan δ 和 ε 测量范围：
tan δ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tan δ 和 ε 测量精度（1MHz）：
tan δ：±5%±0.00005，ε：±2%
电感器：
按测试频率♂要求，需要配置不同量的电感器。例如：在1MHz测试〗频率时，要配100μH 或250μH 电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。
高频介↘质样品（选购件）：
在现行高频介♀质材料检定系统中，检¤定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧╳化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成♂Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用╱户可按需订购，以保证测试装置的重复性■和准确性。
介电常数介质损耗测试仪是根据〇GB/T 1409《测量电气绝缘∩材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介∞质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等▲试验方法。
介电常数介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了完美的解决方案，它给从事高频电子设①计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为▂精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的ㄨ任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的▃品质，无须关注量程和换算单位。
高频介质损耗测试仪
三、性能特点
■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进 ■ 测试电平10mV～5V, 1mV步进 ■ 基本准确度0.1%■ zui高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率■ 可测量22种阻抗参数组合■ 四种信号源输出阻抗■ 10点列表♂扫描测试功能 ■ 内部自带直流偏置源■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)■ 电压或电流的自动电平调整Ψ(ALC)功能 ■ V、I测试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析々功能■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用■ 2m/4m测试电缆↘扩展(选件)■ 中英文可选操作界面■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
四、简要介绍
测试材料：
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗♀角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：液晶单『元的介电常数、弹性常数等C-V特性
高频介质损耗测试仪
