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                IGBT静态参数测试仪【华科智源

                IGBT静态∏参数测试仪华科智源
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                华科智源
                HUSTEC-1600A-MT
                广东深圳
                高教
                广东 深圳 宝安区
                详细说明

                IGBT静态参数测试仪华科智源

                 

                  产品简介Introducion

                  HUSTEC-1600A-MT是一款大功率器件参数测试仪,可用于IGBT单管及模块,SIC器件,MOS管,二极管等功率器件的静态参数测试。

                IGBT静态参数测试仪华科智源

                  产品测试电流电压为1600A,±5000V,向下兼容,可升级到3KA/10KV.

                  VGE可达±100V;开启电压VGETH支持两种测试方法;

                  采用插槽式设计结构,便于升级和维护;

                  设备支持SI基,SIC材料的MOS管,IGBT单管及模块,二极管测试,晶闸管测试,

                  自动进行分档测试,既覆盖大功率特征下的测试范围,又可保证小功率器件测试精度

                  支持单点测试,I-V曲线扫描,还具有曲线对比功能;同一规格型号,不同批次的产品曲线对比,同一规格,不同厂家之家的产品曲线对比

                  开放』通讯接口,可以连接探针台做wafer / chip 测试,也可以连接HANDLE,夹具及适配器做模块测试,

                  测试数据可存储为Excel文件,WORD报告

                IGBT静态参数测试仪华科智源

                IGBT静态参数测试仪华科智源

                  技术指标 Technical Specifications

                技术指标

                3.4

                VGE(th)栅极阈值电压

                VGE:0.1~10V±1%±0.01V;

                3.5

                VGE(th)

                测试条件与精度

                集电极◥电流Ic:

                10~50mA±1%±0.5mA;

                50~200mA±1%±1mA;

                200~1000mA±1%±2mA;


                3.6

                VCES集射极截止电压

                VCES:0-5000V±1%±2V;

                3.7

                VCES

                测试条件与精度

                集电极电流ICES:

                0.01~1mA±3%±0.001mA;

                1~10mA±2%±0.01mA;

                10~50mA±1%±0.1mA;


                3.8

                ICES集射极截止电流

                集电极电流ICES:0.01~50mA

                0.001~1mA±3%±0.001mA;

                1~10mA±2%±0.01mA;

                10~50mA±1%±0.1mA;

                3.9

                ICES

                测试条件与精度

                集电极电压VCES:50~500V±1%±1V;

                500~5000V±1%±2V;


                3.10

                VCE(sat)饱和导通◥压降

                集电极电压VCEs:0.001~10V±0.5%±0.001V

                3.11

                VCE(sat)

                测试条件与精度

                栅极电压Vge:5~40V±1%±0.01V

                集电极电流ICE:0-1600A

                0~100A±1%±1A;

                100~1600A±1%±1A;


                3.12

                Iges栅极漏电流

                栅极漏电流IGEs:0.01~10μA±2%±0.005μA

                3.13

                Iges测试条件与精度

                栅极电压Vge:±1V~100V±1%±0.1V;Vce=0V;


                3.14

                VF正向特性测试

                二极管导通电压Vf:0.1~10V±1%±0.01V

                3.15

                VF正向特性测试

                测试条件与精度

                电流IF:0~100A±2%±1A;

                100~1600A±1%±2A;


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