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                高温介电常数温度测∑试仪

                高温介电常数温度测试仪
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                GCSTD-D
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                高教
                北京 昌平区
                电子科技大学
                详细说明

                  高温介电常数温度测试仪

                高低频介电常数测试仪

                GCSTD-D

                  一、满足标准:

                  GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

                  GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

                  ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

                  二、试验方法:

                  接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料

                  非接触法:适用于上下表面不平整、不光滑材料

                  电极类型:固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套,标配为38mm)

                  液体电极-液体容量15ml

                  粉体电极-根据样品量可配专用电极

                  试样类型:固体、液体、粉体、膏体/规则物或▼者不规则物

                  三、性能特点

                  ■ 测试频率20Hz~2MHz,10mHz步进 ■ 测试电平10mV~5V, 1mV步进 ■ 基本准确度0.1%■ zui高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率■ 可测量22种阻抗参数组合■ 四种信号源输出阻抗■ 10点列表扫描测试功能 ■ 内部自带直流偏☆置源■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 ■ V、I测≡试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析功能■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口〓方便用户联机使用■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)■ 中英文可选操作界面■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序

                  四、简要介绍

                  测试材料:

                  无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片◣组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

                  半导体元件:变容二极※管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析

                  其它元件:印制●电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

                  介质材料:塑料、陶◥瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

                  磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

                  半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

                  液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

                  五、随机配置

                  1、主机:1台

                  2、测试电极:1套

                  3、数据线:1套

                  4、电源线:1根

                  5、合格证:一份

                  6、测试系统:一套

                  高温介电常数温度测试仪

                  大¤电容值直接测量显示。

                  数显微测量ぷ装置,直接读值。

                  可同时测量及输出频率谱、电压谱、偏压谱、温度谱、介电温谱、阻抗谱的测∏量数据与图形。测试频率为DC-30MHz。

                  首先,需要准备一套介电温谱测试仪,也就是专业的高温介电温谱测量系统。

                  制备样品,需制备为圆盘样品,表面打磨光滑平整,涂上电极。

                  E4990A支持多款测试附件,因此能够降低测量复杂性并提高可靠性。

                  研究微波介电材料的温度特性,能够研究影响材料复介电常数的一些机理,如相结构、杂质、添加剂、微结构、空位等对微波性能的影响

                  在开始Ψ 测量前,需将高温介电夹具和♀LCR阻抗分析仪之间进行∩校准操作。

                  将样品放入高温介电∩夹具平台上,使用升降平台将高温介电夹具放入高温测试平台中。

                  高温介电温谱测量系统软件,设计实验方案,启动测量。(测量参数设置为C和D,软件自动换算介电常数)

                  高温介电常数温度测试仪

                  7.2.6 液态金属——使用汞电极时,在水银池上浮▓动样本,同时使用带尖锐边缘的限制环来拦住受保护和保护电极中的汞,如图9所示。当↓必须测试相当数量的样本时,一种更方便的装置是试验方法D1082中图4所示的试验工装。

                  由于汞蒸气具☆有毒性,尤其是在高温下,可能存在一些健康危险,因此在使用期间应采取合适的预防措施。在测量薄膜形式的低损耗材料时,例如云母片剥离,汞污染可能引入相当大的误差,这通常将有必要使用干净的汞进〓行每一次试验。伍德合金或其≡它低熔点合金可采用类似方◣式来使用,以在某种程度上降低健康危险。

                  介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗

                  和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振︻法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。

                  工作原理:

                  “Q”的定义

                  Q表是根据串联谐振原理设计,以谐振电压的比【值来定位Q值。

                  “Q”表示元件或系统的“品质因数”,其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比∑。对于电抗元件(电感或电容)来说,即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。

                  7.2.6.1 警告——长期认为汞金属蒸汽中毒是工业中的一种危险。暴露极限由政府机构进行设置,同时通常以美国政府工业卫生学者会议8提出的建议为基础№。破碎的温√度计,气压计和其它使用汞的仪器所√溢出的汞浓度可能轻易地超过这些暴露极限。

                  汞作为一种高表面张力和非常重的液体,其将分散成小液滴,同时渗透进入地板中的裂纹和裂缝。这种暴露面积的增加显著增大了在空气中的汞蒸气浓度。任何︽时候发生溢出时,建议使用商用泄漏应急工具包。汞蒸气浓度容易采用商用嗅探╳器进行监测。在汞暴露于大气的区域,在作业周围定期进行现场检查。溢出之〖后进行彻底地检查。

                  高温介电常数温度测试仪

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